無(wú)論是實(shí)驗室環(huán)境還是生產(chǎn)車(chē)間，都需要采用更的半導體測試方法。半導體測試是NI的戰略重點(diǎn)。我們正在擴展我們的軟件和PXI功能，以幫助芯片商應對他們面臨的挑戰，這一點(diǎn)通過(guò)NI的PXISMU可以*體現出來(lái)。"由于其高吞吐量、高性?xún)r(jià)比和占地面積小，NI的半導體測試系統(STS)正在快速應用到芯片生產(chǎn)中。全新的PXIe-4163SMU則進(jìn)一步增強了這些功能，它能更高的直流通道密度，使多站點(diǎn)應用具有更高的并行性，以及在生產(chǎn)中實(shí)驗室級別的測量質(zhì)量。給出了4051的突發(fā)功率測量功能測量某一突發(fā)信號的測量結果。4051突發(fā)功率測量如果沒(méi)有用戶(hù)定義突發(fā)信號寬度，突發(fā)脈沖寬度可以這樣得到：在捕獲的數據中找出峰值，然后找 跡上個(gè)高于閾值的位置，即為脈沖的起始點(diǎn)，脈沖的終點(diǎn)為軌跡上低于閾值的個(gè)點(diǎn)，平均載波功率通常由脈沖寬度和閾值計算得到